使用涂层测（cè）厚仪时，影响测量结果会有哪些因素？

　　

　　下面我（wǒ）们一起去看（kàn）看使用时，影响涂层测厚仪测（cè）量结果的有哪些因素（sù）？

　　1、基体金属磁性磁性法测厚受基体金（jīn）属磁性变化的影（yǐng）响（xiǎng）（在实（shí）际应用中，低碳钢磁性的变化可（kě）以认为时轻微的）。为了避免热处理、冷（lěng）加（jiā）工等因素的影响，应使用与试件金属（shǔ）具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。

　　

　　2、基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体（tǐ）厚度的影响（xiǎng）。

　　

　　3、边（biān）缘效应（yīng）本仪器对试片表面形（xíng）状的陡变敏感。因（yīn）此在靠近试片边（biān）缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　

　　4、曲率试件的曲（qǔ）率对测量有影响，这种影响总是（shì）随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在（zài）试（shì）件超（chāo）过允许的曲率半径的弯曲面上测量。

　　

　　5、表面粗糙度基体金属（shǔ）何（hé）覆（fù）盖层的表面粗糙度对测量有影（yǐng）响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面（miàn）会引起系统误差何（hé）偶然误差。每（měi）次（cì）测量时，在不同位置上应增加测量（liàng）的次数，以克服这（zhè）种偶然误差。如果基体（tǐ）金属粗糙，还必须在未屠夫的粗糙度相（xiàng）类似的基体金属试件上取几个（gè）位（wèi）置校对仪器的零点；或用没有腐蚀（shí）性的溶液（yè）除去基体金属（shǔ）覆盖层，再校（xiào）对仪器（qì）的零点。

　　

　　6、磁场周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁（cí）性法测（cè）量厚度（dù）的（de）工作。

　　

　　7、附着物质本仪（yí）器（qì）对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物（wù）质，以保证探头与覆盖层表（biǎo）面（miàn）直接接触。

　　

　　8、探头压力探头（tóu）置于试件上施加的压力大小会影响测量的读（dú）数。因此本仪器探头用弹簧保持一个基本恒（héng）定的压力。

　　

　　9、探头的放（fàng）置探（tàn）头的放置方（fāng）式对测量有影响。在测量中，应当使探头与试（shì）样表面保持垂直。

　　

　　10、试件的变形探头使软覆盖层试件变形。因（yīn）此在这些试件上会测出不太可靠的数据。读数次数通常仪器的每次读数并不*相同。因（yīn）此必须在每一测量面积内取几个读数（shù），覆盖层厚度（dù）的局部差异，也要求在任一给定的面积（jī）内进行多次（cì）测量。表面粗糙时更应如此。